TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi.

Tutkimustuotos: Patentti

Standard

Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi. / Häyrinen, V. (Keksijä).

Patenttinumero: 89583.

Tutkimustuotos: Patentti

Harvard

Häyrinen, V 1994, Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi., Patenttinumero 89583.

APA

Häyrinen, V. (1994). Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi. (Patenttinumero 89583).

Vancouver

Author

Häyrinen, V. (Keksijä). / Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi. Patenttinumero: 89583.

Bibtex - Lataa

@misc{37fac49b747d417db71a713d470cc098,
title = "Menetelm{\"a} ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi.",
author = "V. H{\"a}yrinen",
note = "Contribution: organisation=fys,FACT1=1; 89583",
year = "1994",
language = "English",
type = "Patent",

}

RIS (suitable for import to EndNote) - Lataa

TY - PAT

T1 - Menetelmä ja laite lasilevyn taivutusasteen mittaamiseksi.

AU - Häyrinen, V.

N1 - Contribution: organisation=fys,FACT1=1

PY - 1994

Y1 - 1994

M3 - Patent

M1 - 89583

ER -