TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Menetelmä ja laitteisto akkujen kuvaamiseksi ohjelmallisilla mittareilla

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
PatenttinumeroPat. FI 114048
Prioriteetti päiväys30/07/04
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

Julkaisufoorumi-taso