Menetelmä ja laitteisto akkujen kuvaamiseksi ohjelmallisilla mittareilla
Tutkimustuotos: Patentti ›
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Patenttinumero | Pat. FI 114048 |
| Prioriteetti päiväys | 30/07/04 |
| Tila | Julkaistu - 2004 |
| OKM-julkaisutyyppi | H1 Myönnetty patentti |