TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Menetelmä ja laitteisto fyysisen kohteen kolmiulotteisen mallin määrittämiseksi

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
PatenttinumeroFI 112823 B
Prioriteetti päiväys15/01/04
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

Julkaisufoorumi-taso