TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Method, device and system for calibrating angular rate measurement sensors

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
PatenttinumeroPat. US 6834528
Prioriteetti päiväys28/12/04
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

Julkaisufoorumi-taso