TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Method for measuring properties of a particle distribution

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
PatenttinumeroPat. US 7066037 (B2)
Prioriteetti päiväys27/06/06
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti

Julkaisufoorumi-taso