TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Method for measuring refractive index, and refractometer

Tutkimustuotos: Patentti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
PatenttinumeroUS9719919 B2
IPCG01J3/18, G01N21/43, G01J3/02, G01J3/50, G01N21/03, G01N21/41, G01N21/25
Prioriteetti päiväys23/01/13
TilaJulkaistu - 1 elokuuta 2017
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiH1 Myönnetty patentti