TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Mittaustekniikka I. Mittaustekniikan perusteet

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliSuomi
JulkaisupaikkaEspoo
KustantajaOtakustantamo
Sivumäärä112
TilaJulkaistu - 1985
OKM-julkaisutyyppiC1 Kustannettu tieteellinen erillisteos

Julkaisufoorumi-taso