TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Multiscale Fourier descriptors for defect image retrieval

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut123-132
JulkaisuPattern Recognition Letters
Vuosikerta27
Numero2
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso