Noise removal and deformation elimination
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Otsikko | Nonlinear Image Processing and Pattern Analysis XII, Proceedings of SPIE, The International Society for Optical Engineering, 22 - 23 January, 2001 San Jose, USA |
Toimittajat | E. R. Dougherty, J. Astola |
Sivut | 288-297 |
Tila | Julkaistu - 2001 |
OKM-julkaisutyyppi | A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa |