Noise removal and deformation elimination
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Otsikko | Nonlinear Image Processing and Pattern Analysis XII, Proceedings of SPIE, The International Society for Optical Engineering, 22 - 23 January, 2001 San Jose, USA |
| Toimittajat | E. R. Dougherty, J. Astola |
| Sivut | 288-297 |
| Tila | Julkaistu - 2001 |
| OKM-julkaisutyyppi | A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa |