TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Noise-Robust Texture Description Using Local Contrast Patterns via Global Measures

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut93-96
Sivumäärä4
JulkaisuIEEE Signal Processing Letters
Vuosikerta21
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso