TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Nonlinear microscopy of nano-objects using spatially engineered phase jumps

Tutkimustuotos: Konferenssiesitys, posteri tai abstrakti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivumäärä1
TilaJulkaistu - 2016
TapahtumaOPTICS DAYS -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceOPTICS DAYS
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

Here, we demonstrate the arbitrary control of longitudinal fields and its spatial distribution at the focus of a microscope objective using nonlinear microscopy with engineered phase jumps (or discontinuities) in the excitation beam profile.