TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Optimal quality limits for on-line measurements

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoPapercon2011, TAPPI International Conference, May 1-4, 2011, Covington, Kentucky, USA
JulkaisupaikkaNorcross, GA
KustantajaTAPPI
Sivut971-978
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

NimiTAPPI International Conference Papercon
KustantajaTAPPI

Julkaisufoorumi-taso

Tilastokeskuksen tieteenalat