TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Oxygen-related deep level defects in solid-source MBE grown GaInP

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut244-248
JulkaisuJournal of Crystal Growth
Vuosikerta227-228
TilaJulkaistu - 2001
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso