TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Photometric stereo system for detailed analysis of material surfaces

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoIMEKO XXI World Congress, Measurement in Research and Industry, Proceedings, August 30 - September 4, 2015, Prague, Czech Republic
Sivumäärä6
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaIMEKO WORLD CONGRESS -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceIMEKO WORLD CONGRESS
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

This paper describes a photometric stereo system for the measurement of surface topography. The system provides versatile experimental possibilities due to movable multicolor LEDs, movable camera, and a traveling (xy-)table for the sample. We introduce our measurement setup and present analysis of its performance. Our topography maps correlate well with the contact profilometry reference map, and reveal different details of the surfaces depending on the illumination wavelength and pixel size.

Julkaisufoorumi-taso

Latausten tilastot

Ei tietoja saatavilla