TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Practical Monitoring and Analysis Tool for WSN Testing

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoDASIP, Proceedings of the 2011 Conference on Design & Architectures for Signal & Image Processing, Tampere, Finland, November 2nd - 4th, 2011
JulkaisupaikkaPiscataway, NJ
KustantajaIEEE
Sivut298-305
ISBN (painettu)978-1-4577-0620-2
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

NimiConference on Design & Architectures for Signal & Image Processing DASIP
KustantajaIEEE