TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Proceedings of SPIE, Mathematical Methods in Pattern and Image Analysis

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
KustantajaSPIE
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiC2 Toimitettu kirja, kokoomateos, konferenssijulkaisu tai lehden erikoisnumero

Julkaisufoorumi-taso