TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Quantitative modelling in scanning probe microscopy

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut427-434
JulkaisuCurrent Opinion in Solid State and Materials Science
Vuosikerta5
Numero5
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2001
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso