TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Reduction of surface defects in GaAs grown by MBE

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1340-1342
JulkaisuApplied Physics Letters
Vuosikerta51
Numero17
TilaJulkaistu - 1987
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso