TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Reliability Analysis of RFID Tags in Changing Humid Environment

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut77-85
Sivumäärä9
JulkaisuIEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology
Vuosikerta4
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli