TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Reliability analysis of two frequency converter generations using system-level stress testing

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut929-1244
JulkaisuIET Power Electronics
Vuosikerta5
Numero7
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli