TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Reliability Analysis of UHF RFID Tags Under a Combination of Environmental Stresses

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut119-125
Sivumäärä7
JulkaisuIEEE Transactions on Device and Materials Reliability
Vuosikerta13
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli