TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Säteilevien EMC-häiriöiden mittaus

Tutkimustuotos

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliSuomi
JulkaisupaikkaTampere
KustantajaTampereen teknillinen korkeakoulu
Sivumäärä40
TilaJulkaistu - 1999
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

Julkaisusarja

NimiTampereen teknillinen korkeakoulu, Elektroniikan laitos, Raportti
KustantajaTampereen teknillinen korkeakoulu
Numero4/99

Julkaisufoorumi-taso