Putaala, J., Niittynen, J., Hannu, J., Myllymäki, S., Kunnari, E.,
Mäntysalo, M., Hagberg, J. & Jantunen, H.,
1 kesäkuuta 2017,
julkaisussa : IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 17,
2,
s. 281-290 10 SivumääräTutkimustuotos › › vertaisarvioitu