TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Second-harmonic generation microscopy of vertically aligned semiconductor nanowires using vector beams

Tutkimustuotos

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoFocus on Microscopy 2015
ToimittajatGertrude Bunt, Fred Wouters, Fred Brakenhoff
Sivut91
Sivumäärä1
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiB3 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisusarja

NimiFocus on Microscopy Series
Numero28

Julkaisufoorumi-taso