TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Sensitivity distributions of EEG and MEG measurements

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut196-208
JulkaisuIEEE Transactions on Biomedical Engineering
Vuosikerta44
Numero3
TilaJulkaistu - 1997
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso