Size is in the eye of the beholder: technique for nondestructive detection of parameterized defects
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Sivut | 3006-3009 |
| Julkaisu | IEEE Transactions on Magnetics |
| Vuosikerta | 46 |
| Numero | 8 |
| DOI - pysyväislinkit | |
| Tila | Julkaistu - 2010 |
| OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |