TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Size is in the eye of the beholder: technique for nondestructive detection of parameterized defects

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut3006-3009
JulkaisuIEEE Transactions on Magnetics
Vuosikerta46
Numero8
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli