TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Sputtered Multilayers Studied by X-ray Profiling in SEM

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut91-92
JulkaisuSurfacing Journal International
Vuosikerta1
TilaJulkaistu - 1986
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso