TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Statistical characterisation of stack filters

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Otsikko1997 IEEE Workshop on Nonlinear Signal and Image Processing, NSIP97
Sivutosa 213
TilaJulkaistu - 1997
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso