TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Strength of Ta-Si interfaces by molecular dynamics

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut645-650
JulkaisuMicroelectronics Reliability
Numero43
TilaJulkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso