TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Surface Crystallography of CoSi2(111) Determined by Dynamic Low-Energy Electron Diffraction

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut10395-10401
JulkaisuPhysical Review B
Vuosikerta47
Numero16
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1993
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso