TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

System-level reliability testing a frequency converter with simultaneous stresses

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut884-890
JulkaisuIET Power Electronics
Vuosikerta4
Numero8
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli