TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Testing the effects of reflow on tantalum capacitors

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1650-1653
JulkaisuMicroelectronics Reliability
Vuosikerta50
Numero9-11
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli