TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Testing the effects of temperature cycling on tantalum capacitors

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1121-1124
JulkaisuMicroelectronics Reliability
Vuosikerta50
Numero8
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Latausten tilastot

Ei tietoja saatavilla