TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

The effect of USB ground cable and product dynamic capacitance on IEC61000-4-2 qualification

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoElectrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2015
JulkaisupaikkaUSA
KustantajaIEEE COMPUTER SOC
Sivumäärä10
Vuosikerta2015
ISBN (painettu)9781479988952
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 27 syyskuuta 2015
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

EC61000-4-2 discharge stress levels are studied with varying product capacitance and ground connections. Stress levels are evaluated based on the measured and simulated peak current, peak power, pulse rise time, and energy transfer along to the USB cable. These stress parameters can be significantly affected by adjusting the test setup.

!!ASJC Scopus subject areas

Tutkimusalat

Julkaisufoorumi-taso

Latausten tilastot

Ei tietoja saatavilla