TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

The important role of reflections in multipolar nonlinear optical characterization of thin films

Tutkimustuotos: Konferenssiesitys, posteri tai abstrakti

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
SivumääräCE-3.1
TilaJulkaistu - 2017
TapahtumaCONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceCONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS
Ajanjakso1/01/00 → …