TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

The optimization of on-wafer shield-based test fixture layout

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1975-1982
JulkaisuIEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Vuosikerta54
Numero5
TilaJulkaistu - 2006
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso