TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

The role of nitrogen-related defects in high-k dielectric oxides: Density-functional studies

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut13 p
JulkaisuJournal of Applied Physics
Vuosikerta97
Numero5, 053704
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2005
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso