Thermal processing of strained-layer InGaAs/GaAs quantum well interface
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 274-278 |
Julkaisu | Applied Surface Science |
Vuosikerta | 75 |
Tila | Julkaistu - 1994 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |