Thermal processing of strained-layer InGaAs/GaAs quantum well interface
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Sivut | 274-278 |
| Julkaisu | Applied Surface Science |
| Vuosikerta | 75 |
| Tila | Julkaistu - 1994 |
| OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |