TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Threshold power-based radiation pattern measurement of passive UHF RFID tags

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut523-526
JulkaisuPIERS Online
Vuosikerta6
Numero6
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli