TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Towards chemical identification in atomic-resolution noncontact AFM imaging with silicon tips

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut8 p
JulkaisuPhysical Review B
Vuosikerta68
Numero19, 195420
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2003
Julkaistu ulkoisestiKyllä
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso