Towards chemical identification in atomic-resolution noncontact AFM imaging with silicon tips
Tutkimustuotos › › vertaisarvioitu
Yksityiskohdat
| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Sivut | 8 p |
| Julkaisu | Physical Review B |
| Vuosikerta | 68 |
| Numero | 19, 195420 |
| DOI - pysyväislinkit | |
| Tila | Julkaistu - 2003 |
| Julkaistu ulkoisesti | Kyllä |
| OKM-julkaisutyyppi | A1 Alkuperäisartikkeli |