TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Transmission electron energy-loss spectroscopy measurements of the dialectric function of Si/Sio2 multilayers

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut6827-6831
JulkaisuJournal of Applied Physics
Vuosikerta84
Numero12
TilaJulkaistu - 1998
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso