TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Ultra High-Frequency Characterization of High-Density 3D Module

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProceedings of 54th Electronic Components & Technology Conference, 1-4 June, 2004, Las Vegas, Nevada, USA
Sivut242-247
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa

Julkaisufoorumi-taso