TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Uncertainties in Charge Measurements of ESD Risk Assessment

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoElectrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2015
JulkaisupaikkaUSA
KustantajaIEEE COMPUTER SOC
Sivumäärä8
Vuosikerta2015
ISBN (painettu)9781479988952
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 27 syyskuuta 2015
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceELECTRICAL OVERSTRESS/ELECTROSTATIC DISCHARGE SYMPOSIUM
Ajanjakso1/01/00 → …

Tiivistelmä

Charge measurement techniques are often considered too complicate to the process control of electronics manufacturing. In his study, we show that expensive instrumentation is not necessarily needed for characterizing ESD source parameters in a risk assessment. Measurement can be made accurately when uncertainties are properly taken into account.

!!ASJC Scopus subject areas

Tutkimusalat

Julkaisufoorumi-taso

Latausten tilastot

Ei tietoja saatavilla