TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Understanding the atomic-scale contrast in Kelvin probe force microscopy

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivutpp. 036802-1-4
Sivumäärä4
JulkaisuPhysical Review Letters
Vuosikerta103
Numero3
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso