TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Web-wide diagnostics of paper properties based on fault detector system images

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoPaperCon 2010 Conference, Twenty-Third Process Industry Reliability and Maintenance Conference, May 2-5, 2010, Atlanta, GA, USA
Sivut1-13
Sivumäärä13
TilaJulkaistu - 2010
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa