TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

Wet oxidation for detecting surface defect pits of AlGaAs related semiconductors

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut138-143
JulkaisuJournal of Crystal Growth
Vuosikerta274
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso