TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

X-ray analysis of strain relaxation in multilayer systems InxGa1-xAs1-yNy / GaAs

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProceedings of SPIE Correlation Optics
ToimittajatO. V. Angelsky
KustantajaSPIE
Sivut229-237
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaSPIE CONFERENCE PROCEEDINGS -
Kesto: 1 tammikuuta 1900 → …

Conference

ConferenceSPIE CONFERENCE PROCEEDINGS
Ajanjakso1/01/00 → …

Julkaisufoorumi-taso