TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

X-ray diffraction and fracture based analysis of residual stresses in stainless steel-epoxy interfaces with electropolishing and acid etching substrate treatments

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEi tiedossa
Sivut60-67
Sivumäärä8
JulkaisuInternational Journal of Adhesion and Adhesives
Vuosikerta39
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli