TUTCRIS - Tampereen teknillinen yliopisto

TUTCRIS

X-ray diffraction investigations pf InxGa1-xAs1-yNy/GaAs multilayered structure

Tutkimustuotosvertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut477-495
JulkaisuMetallofizika i Noveishie Tekhnologii
Vuosikerta24
Numero4
TilaJulkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli

Julkaisufoorumi-taso